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山东省理化分析测试协会协办的“X射线荧光光谱仪基本参数法原理及应用研讨会”在济南召开
添加日期:[2011/6/24 9:34:15]
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   2011年6月21—23日,由理学电企仪器（北京）有限公司主办，山东省理化分析测试协会、理学中国荧光用户协会协办的“X射线荧光光谱仪基本参数法原理及应用研讨会”在济南山东翰林大酒店召开。来自20个省市的科研院所、高校、企业的41个单位80余人参加了培训。山东省理化分析测试协会理事长刘建华、理学中国荧光用户协会会长、国家地质实验测试中心邓赛文，用户代表中心大型仪器研究室主任时军波、株式会社理学大阪分析中心主任渡边健二、理学电企仪器（北京）有限公司副总经理吴为民等先后致辞。山东省理化分析测试协会副秘书长时新刚主持研讨会。
   株式会社理学大阪分析中心主任渡边健二先生、株式会社理学大阪分析中心工程师池田智先生、国家地质实验测试中心邓赛文研究员分别做了“荧光X射线分析法”、“FP法的原理、模式及无标样分析介绍”、“FP法与工作曲线法的比较”、“X射线荧光理论强度”、“定量、半定量分析”、“FP法在薄膜样品分析中的应用”、“基本参数法的应用与所存在的问题”等精彩的技术报告。研讨会还安排专家和用户到山东省分析测试中心、山东大学、山东省地质科学实验研究院实地参观，上机讲解软件操作。
   通过此次培训，参会人员收获颇丰。大家不仅学习了理论知识，还具体掌握了软件的操作应用，为解决今后的样品分析、教学、科研、生产中的难题打下了良好的基础。

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